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透射电镜原位加热/电学样品杆,基于MEMS原位芯片技术,通过更换多种类型的加热芯片或电学芯片,在透射电镜中实现对样品加热或加电的原位功能。透射电镜样品杆的分类1、气氛杆:气氛杆能够突破现有透射电镜对于真空度要求的限制,在一个*封闭的气体系统中,研究透射电镜内的气相反应过程,如高分辨下观察催化剂与气体的反应情况。并结合控温模块,能够在特定的压力和温度下动态的,实时的观察原子级别的固气反应。同时,该样品杆可以真正在透射电镜中进行密闭腔室的EDS元素分析。可用气体种类:氢气、氮气、氧气、氩气、氨气等多
查看更多泽攸科技JS系列高精度台阶仪是一款先进的自主研发的国产台阶仪,采用了先进的扫描探针技术。通过扫描探针在样品表面上进行微观测量,台阶仪能够准确获取表面形貌信息。其工作原理基于探针与样品表面的相互作用力,通过测量探针的微小位移,实现对表面高度差异的检测。其性能特点包括:1.高精度:台阶仪可实现纳米级别的测量,能够揭示微观结构的细节和特征。2.大行程超精密平面扫描:具备70mm的大行程,优于20nm/2mm,能够高效地获取表面形貌数据。3.大带宽大行程纳米微动台:拥有80um的大行...
了解更多近年来,中国科技创新实力逐渐崭露头角,而在电子显微镜领域,泽攸科技(ZEPTOOLS)的ZEM系列台式扫描电镜正促进行业的新风向。自2019年10月16日在全国电子显微学会年会上展示了国内自主研发的国产台式扫描电镜ZEM15以来,该系列扫描电镜凭借其出色的性能和自主研发的技术特色,逐渐在国内外市场上赢得了广泛认可和青睐。ZEM15台式扫描电镜展会现场ZEM系列台式扫描电镜的问世标志着中国在电子显微镜领域迈出了重要的一步。作为全球电镜市场上的新兴科技品牌,泽攸科技不仅仅是带来了...
了解更多二维材料转移台是一种重要的设备,主要用于二维材料的精确转移和定位。准备阶段:确保二维材料转移台放置在稳定的工作台上,避免振动和干扰。检查电源和连接线路,确保设备正常供电。根据需要选择合适的二维材料和目标基底。安装和固定基底:使用双面胶带或真空泵将目标基底固定在衬底固定台上。确保基底固定牢固,避免在转移过程中发生移动。对准和定位:通过显微镜观察,找到Si衬底上的电极图案或已经转移好的二维材料。将目标位置固定在显微镜视野中央,以便进行精确转移。二维材料的转移:使用PDMS(聚二甲...
了解更多全自动台阶仪的测量精度和重复性是评估其性能的重要指标。通常,测量精度要求全自动台阶仪能够准确地测量出微小的高度差,而重复性则要求其能够保证测量结果的稳定性。为了评估全自动台阶仪的测量精度,可以采用已知准确高度的标准样品进行测试,并比较测量结果与标准样品的实际高度差。此外,可以通过多次重复测量同一样品的高度,计算测量结果的平均值和标准差,以评估全自动台阶仪的重复性。在实际应用中,全自动台阶仪的测量精度和重复性受到多种因素的影响,如仪器的设计、制造工艺、操作环境、操作人员技能等。...
了解更多半自动台阶仪可以测量材料的表面形貌,包括表面粗糙度、波纹度、台阶高度等参数,用于研究材料的表面特性。可以测量薄膜的厚度,对于半导体、光电子、微电子等领域的研究和生产具有重要意义。可以检测材料表面的缺陷,如裂纹、划痕、凹槽等,用于产品质量控制和失效分析。半自动台阶仪在半导体行业中的优势:1.高精度测量:半自动台阶仪采用测量技术,能够实现高精度的测量结果,满足半导体行业对表面形貌和尺寸精度的严格要求。2.高效测量:半自动台阶仪采用自动化测量方式,能够快速、准确地测量半导体表面的台...
了解更多数字图像处理技术已广泛应用于各个领域。其中,桌面型扫描电镜作为一款强大的微观观测工具,在材料科学、生物学、医学等领域发挥着越来越重要的作用。在数字化时代,如何利用它的数字图像处理技术,提高观测的准确性和效率,成为了重要问题。一、数字图像处理技术概述桌面型扫描电镜是一种利用电子束扫描样品表面产生信号的显微镜。它具有较高的分辨率和放大倍数,能够清晰地观察样品的微观结构。数字图像处理技术是重要组成部分,它通过对采集到的图像进行一系列算法处理,如去噪、增强、分割等操作,提取出有用的信...
了解更多纳米力学台是一种高精度的材料性能测试工具,主要用于研究材料的力学性能和变形行为,包括纳米材料、生物材料、复合材料等各种材料的力学性能。可以用于测试材料的弹性模量、屈服强度、断裂强度等力学性能,帮助研究者深入理解材料的性质和行为。可以原位观察和记录纳米材料的力学性能,结合扫描电镜等其他测试手段,可以深入研究材料的变形行为和微观失效机制。好处:1.精度高:可以用于研究纳米级的力学行为,定位精度达到纳米级别,对于材料的力学性能分析具有很高的精度。2.稳定性好:具有很高的运动控制精度...
了解更多原位扫描电镜(SEM)的应用原理主要是利用电子成像来观察样品的表面形貌。当一束极细的高能电子束在试样上扫描时,与试样相互作用产生各种物理信息,如二次电子、背散射电子、特征X射线和连续谱X射线、透射电子等。通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察。SEM的分辨率高于光学显微镜的分辨率,因为电子的波长远小于光的波长。此外,SEM还可以进行样品表面的元素分析,如C、S、N等元素的分布情况。在具体应用中,原位扫描电镜可以用于材料科学、生物学、医学等领域的研究和...
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