泽攸科技JS系列半自动台阶仪作为国产高精度表面测量设备的代表，凭借其创新的技术架构、灵活的应用场景及可靠的测量性能，在半导体制造、材料科学、微纳技术等领域展现了显著优势。JS系列台阶仪通过金刚石探针与样品表面的接触扫描，将微观轮廓的垂直位移转化为电信号，结合高灵敏度传感器与信号处理算法，实现纳米级精度的表面特征捕捉。其核心技术亮点在于超微压力恒定控制系统.

泽攸科技JS系列台阶仪作为国产高精度表面测量设备的代表，凭借其创新的技术架构、灵活的应用场景及可靠的测量性能，在半导体制造、材料科学、微纳技术等领域展现了显著优势。JS系列手动台阶仪通过金刚石探针与样品表面的接触扫描，将微观轮廓的垂直位移转化为电信号，结合高灵敏度传感器与信号处理算法，实现纳米级精度的表面特征捕捉。其核心技术亮点在于超微压力恒定控制系统.

0.5nm重复精度台阶仪, 进口自动台阶仪替代, 批量晶圆测试设备, 透明晶圆测量方案 泽攸科技JS2000C全自动台阶仪——0.5nm超高精度晶圆量产检测系统。集成EFEM自动传输+双摄像头对位，支持8寸晶圆批量处理（≥10片/小时），±10um定位精度满足半导体在线检测需求，广泛适用于半导体、LED、太阳能、MEMS、触控屏、汽车与医疗设备等...