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透射电镜原位加热/电学样品杆,基于MEMS原位芯片技术,通过更换多种类型的加热芯片或电学芯片,在透射电镜中实现对样品加热或加电的原位功能。透射电镜样品杆的分类1、气氛杆:气氛杆能够突破现有透射电镜对于真空度要求的限制,在一个*封闭的气体系统中,研究透射电镜内的气相反应过程,如高分辨下观察催化剂与气体的反应情况。并结合控温模块,能够在特定的压力和温度下动态的,实时的观察原子级别的固气反应。同时,该样品杆可以真正在透射电镜中进行密闭腔室的EDS元素分析。可用气体种类:氢气、氮气、氧气、氩气、氨气等多
查看更多在众多工业生产与科学研究场景中,精确测量物体表面的粗糙度和轮廓是一项至关重要的任务。而台阶仪,作为专业的测量仪器,在这一领域发挥着不可替代的关键作用。本文将全面深入地介绍台阶仪,涵盖其定义用途、工作原理、类型特点等方面,为您呈现关于台阶仪的详细知识画卷。一、台阶仪的定义与用途台阶仪,英文名为Profilometer,是专门用于测量物体表面轮廓和表面光洁度(表面粗糙度)的仪器。在微观层面观察,物体表面实则是由一系列高度、深度以及间距各不相同的峰谷所构成。这些看似细微的特征差异,...
了解更多扫描电子显微镜(SEM)是一种利用电子束扫描样品表面,通过检测产生的信号来获取样品表面形貌和成分等信息的高分辨率显微镜。本文将对SEM的基本原理、优势、应用领域以及操作时的注意事项进行详细解读。1.SEM技术概述SEM通过电子束与样品相互作用产生的信号,如二次电子和背散射电子,来构建样品表面的图像。这种显微镜能够提供纳米级别的高分辨率图像,并具备较大的景深,使得样品的三维形貌得以清晰展示。1.1工作原理SEM的工作原理类似于在暗室中使用手电筒扫描物体。电子束代替手电筒,电子探...
了解更多液体样品分析在化学、生物、环境、食品等多个领域具有广泛的应用。为了确保分析结果的准确性和可靠性,质量控制是分析过程中不可忽视的重要环节。一、样品采集与储存样品采集:液体样品的采集应遵循代表性、均匀性和可追溯性的原则。采样容器应选择适当的材质,以避免样品在运输和储存过程中受到污染或发生化学变化。样品储存:样品储存过程中应严格控制温度、湿度和光照等条件,防止样品发生降解、变质或受潮。同时,应定期检查样品的完好性和稳定性,确保样品在分析前保持原始状态。二、样品预处理样品净化:对于含...
了解更多为了深入理解纳米材料的结构和性能,透射电子显微镜(TEM)作为一种强大的表征工具,被广泛应用于纳米材料的研究中。而透射电镜样品杆,作为连接样品与电镜的关键桥梁,其重要性不言而喻。透射电镜样品杆的设计和制备对于纳米材料的观察和分析至关重要。由于纳米材料的尺寸小、结构敏感,对样品杆的要求也极为严格。优质的样品杆应具有高分辨率、良好的机械性能和化学稳定性,以确保在复杂环境下仍能获取高质量的图像和数据。在纳米材料的研究中,透射电镜样品杆的应用主要体现在以下几个方面:1.结构表征:纳米...
了解更多在科学研究和工业生产中,液体样品杆作为一种重要的实验工具,广泛应用于化学、生物、物理等领域。为了提高实验的准确性和效率,它的设计与优化显得尤为重要。一、设计原则密封性:首要任务是确保样品在运输和实验过程中的密封性,防止液体泄漏。因此,设计时应选用优质的密封材料和合适的密封结构。精度:精度直接影响到实验结果的准确性。在设计过程中,应充分考虑样品的浓度、粘度等因素,选择合适的取样量和取样方式,以确保测量精度。操作性:应易于操作,方便用户快速完成样品的取样、加样等操作。同时,操作过...
了解更多扫描电镜(SEM)的对比度调整是优化图像质量的关键步骤,以下是一些有效的调整技巧:调节电子束参数:改变加速电压和聚焦电流可以显著影响图像对比度。较低的加速电压通常会增加样品表面细节的对比度,因为低能电子与样品的相互作用更强,但可能会减少穿透深度。调整聚焦电流则可以控制电子束的精细程度,进而影响图像的清晰度和对比度。对比度控制器调节:在SEM的操作界面中,直接调整对比度控制旋钮或滑块。一般建议逐渐增加对比度至图像出现轻微噪声,这通常是一个较好的平衡点,对比度过高会使得图像细节模...
了解更多减少扫描电镜(SEM)中电子束对样品损伤的方法主要包括以下几点:降低束流密度:通过扩大扫描区域或减小电子束的流强,可以减少单位面积上接收到的电子数量,从而减轻对样品的损伤。使用低加速电压:较低的加速电压意味着电子的能量较低,它们对样品的穿透能力减弱,减少了对样品内部结构的损伤,更适合观察表面敏感或软物质样品。优化样品制备:确保样品表面导电,通过镀金或其他导电材料处理,减少表面充电效应。适当的热处理可以减少样品内部应力,间接降低损伤。对于生物样品,冷冻干燥或液氮快速冷冻可以固定...
了解更多在材料力学性能的研究中,原位拉伸样品杆与应力-应变曲线之间的关系是至关重要的。原位拉伸技术为研究者提供了一种在微观尺度上观察材料在受力过程中的变形行为的方法,而应力-应变曲线则是描述材料在受到外力作用时,其内部发生变形与破坏特性的宏观表现。原位拉伸样品杆是实现这一研究的关键工具。通过在扫描电子显微镜(SEM)或透射电子显微镜(TEM)等高精度成像设备中安装拉伸装置,研究者能够在材料受到拉伸力的同时,实时观察其微观结构的变化。这种技术使得研究者能够直观地看到材料的形变过程,包括...
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