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PicoFemto系列透射电镜原位测量系统源于中科院物理研究所SF1组（20世纪90年代），围绕原位电学测量样品杆，泽攸科技不断进行产品迭代及功能拓展，已推出电、力、光、热、低温等多种原位功能样品杆，产品覆盖国内原位电镜市场的同时也远销美国、英国、德国及澳大利亚科研市场。
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PicoFemto系列透射电镜原位加热/电学样品杆，基于MEMS原位芯片技术，通过更换多种类型的加热芯片或电学芯片，在透射电镜中实现对样品加热或加电的原位功能。
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PicoFemto系列透射电镜原位力学样品杆，基于TEM-STM样品杆技术，集成力测量功能，对样品进行压缩/拉伸过程可实时输出力-位移曲线，支持力-电同时测量。
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PicoFemto系列透射电镜原位多场耦合样品杆，结合TEM+STM+MEMS原位技术，通过更换不同类型的原位芯片及探针，在透射电镜中实现光、电、力、热多种原位功能。
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原位冷冻样品杆系列是一款专为透射电子显微镜（TEM）设计的实验工具，旨在满足材料科学、生命科学等领域对低温环境下样品表征的需求。该系列产品基于标准外形的透射电镜样品杆，通过集成先进的液氮杜瓦等冷冻模块，使样品能够在低温环境中进行观测，从而显著降低电子束辐照对样品的损伤，同时为研究材料的低温结构和特性提供了理想的条件。泽攸科技凭借其真空导冷和低温绝热技术，确保了系统的性能。
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原位MEMS加热/电学样品杆系列是一款专为透射电子显微镜（TEM）设计的实验工具，旨在满足纳米材料、能源科学及电子器件研究领域对原位动态表征的需求。该系列产品基于标准外形的透射电镜样品杆，通过集成MEMS芯片技术，实现了对单个纳米结构的精确温度调控和电学测量功能。在实验过程中，用户不仅可以对样品进行可控加热，还能实时监测其电学特性，同时结合透射电镜及相关附件。
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