原位加热/电学样品杆

【产品概述】PicoFemto系列透射电镜原位加热/电学样品杆，基于MEMS原位芯片技术，通过更换多种类型的加热芯片或电学芯片，在透射电镜中实现对样品加热或加电的原位功能。

产品型号：Almighty
更新时间：2025-05-08
访问量：8300
厂商性质：生产厂家

产品详情

PicoFemto系列透射电子显微镜原位加热/电学样品杆是在标准外形的透射电镜样品杆内安装MEMS工艺制成的加热芯片和电学测量芯片。加热芯片可对样品进行可控温度的加热，电学测量芯片可对样品进行电性质测量。并可在进行加热和电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。

技术指标

电学测量	加热控温
1.包含一个电流电压测试单元；	1.温度范围：室温至1200℃；
2.电压输出：Max ±200V， Min ±5 uV；	2.加热功率：Max 30W；
3.电流测量：Max ±1.5 A， Min ±100fA；	3.控温稳定性：优于±0.1℃；
4.恒压或恒流模式	4.PID/Pulse/Manual三种控温方式；
5.软件控制，数据自动保存。	5.软件控制，数据自动保存。

    产品选型

    原位加热/电学样品杆具有单倾、双倾两个版本，电极数可选；同时可拓展真空转移芯片杆、低温芯片杆，用户可根据实验需求自行选择。

    泽攸科技提供适配Thermofisher/FEI（赛默飞）、JEOL（日本电子）、Hitachi（日立）各型号透射电子显微镜及极靴的不同型号芯片式样品杆，支持定制。

    国内部分用户

南方科技大学.png 山东大学.jpg 物理所.jpg 燕山大学.jpg

    典型案例

    1、透射电镜内的原位加热实验；

    2、透射电镜内的原位加电实验（可选针对敏感样品的真空转移方案）；

    3、透射电镜内的原位热电耦合实验；

    4、透射电镜内的低温电学实验；

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