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原位加热/电学样品杆

【产品概述】PicoFemto系列透射电镜原位加热/电学样品杆,基于MEMS原位芯片技术,通过更换多种类型的加热芯片或电学芯片,在透射电镜中实现对样品加热或加电的原位功能。

  • 产品型号:Almighty
  • 更新时间:2024-02-02
  • 访  问  量:3090
  • 厂商性质:生产厂家

产品详情

    PicoFemto系列透射电子显微镜原位加热/电学样品杆是在标准外形的透射电镜样品杆内安装MEMS工艺制成的加热芯片和电学测量芯片。加热芯片可对样品进行可控温度的加热,电学测量芯片可对样品进行电性质测量。并可在进行加热和电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征,大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。

    技术指标

电学测量 加热控温
1.包含一个电流电压测试单元; 1.温度范围:室温至1200℃;
2.电压输出:Max ±200V, Min ±5 uV; 2.加热功率:Max 30W;
3.电流测量:Max ±1.5 A, Min ±100fA; 3.控温稳定性:优于±0.1℃;
4.恒压或恒流模式 4.PID/Pulse/Manual三种控温方式;
5.软件控制,数据自动保存。 5.软件控制,数据自动保存。

    产品选型

    原位加热/电学样品杆具有单倾、双倾两个版本,电极数可选;同时可拓展真空转移芯片杆、低温芯片杆,用户可根据实验需求自行选择。

    泽攸科技提供适配Thermofisher/FEI(赛默飞)、JEOL(日本电子)、Hitachi(日立)各型号透射电子显微镜及极靴的不同型号芯片式样品杆,支持定制。

    国内部分用户

 

南方科技大学.png山东大学.jpg物理所.jpg燕山大学.jpg637843402786043367145.jpg

    典型案例

    1、透射电镜内的原位加热实验;

    2、透射电镜内的原位加电实验(可选针对敏感样品的真空转移方案);

    3、透射电镜内的原位热电耦合实验;

    4、透射电镜内的低温电学实验;

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