PicoFemto系列透射电镜原位加热/电学样品杆,基于MEMS原位芯片技术,通过更换多种类型的加热芯片或电学芯片,在透射电镜中实现对样品加热或加电的原位功能。
查看更多泽攸科技TEM-STM样品杆系列是一种基于扫描探针技术的创新性原位透射电镜(TEM)测量工具,为纳米科学研究提供了全新的视角和手段。该系列产品将扫描探针控制单元巧妙集成于标准外形的透射电镜样品杆中,能够在透射电镜腔体内实现对单个纳米结构的精确操纵与电学测量。通过这一系统,研究人员不仅可以实时动态地观察样品的晶体结构、化学组分和元素价态的变化,还可以在多种外场环境下进行多维度的原位表征。
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