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    原位MEMS 加热/电学样品杆系列 更新日期：2025-03-13        型号：        厂商性质：生产厂家

    原位MEMS加热/电学样品杆系列是一款专为透射电子显微镜（TEM）设计的实验工具，旨在满足纳米材料、能源科学及电子器件研究领域对原位动态表征的需求。该系列产品基于标准外形的透射电镜样品杆，通过集成MEMS芯片技术，实现了对单个纳米结构的精确温度调控和电学测量功能。在实验过程中，用户不仅可以对样品进行可控加热，还能实时监测其电学特性，同时结合透射电镜及相关附件。

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