原位MEMS加热/电学样品杆系列是一款专为透射电子显微镜(TEM)设计的实验工具,旨在满足纳米材料、能源科学及电子器件研究领域对原位动态表征的需求。该系列产品基于标准外形的透射电镜样品杆,通过集成MEMS芯片技术,实现了对单个纳米结构的精确温度调控和电学测量功能。在实验过程中,用户不仅可以对样品进行可控加热,还能实时监测其电学特性,同时结合透射电镜及相关附件。
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