TEM-STM样品杆系列

产品介绍

TEM-STM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量。在进行原位操纵的同时利用透射电镜及相关附件实时动态地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，极大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。

产品特色

1.电学测量指标

电流测量范围: 1 nA - 30 mA，多个量程

电流分辨率: 优于100 fA

电压输出范围:普通模式 ± 10 V，高压模式 ± 150 V

自动I-V测量、l-t 测量，自动保存

可外接第三方源表满足多种实验需求

包含一个电流电压测试单元

2.扫描探针操纵指标

粗调范围: XY 方向 2.5 mm，Z 方向1.5 mm

细调范围: XY 方向15 μm，Z 方向1.5 μm

细调分辨率: XY 方向0.4 nm，Z 方向0.04 nm

粗细调均为软件控制

拓展产品

基于TEM-STM测量系统，研究人员还可选择扫描探针与多种外场耦合的原位测量系统：

AFM力电测量系统                       光电测量系统                           低温电学测量系统

纳牛级力学传感器                        双向光纤输出                           液氮低温制冷

力学曲线输出                               光电流测量                              低温下电学测量

力-电同时测量                             光谱分析                                  低温下力学操纵

高温电学测量系统                       高温力学测量系统                     多场原位测量系统

芯片式加热                                 芯片式加热                               芯片式加热/加电

热-电耦合                                   热-力耦合                                 集成双向光纤

高温下力学操纵                          力学曲线输出                            热-电-力-光多场耦合

应用案例

PbTiO3/SrRuO3 界面处的三重极化                           电场作用下混合型畴结构到单一型畴结构的转变

顶点的电场调控

部分产品精选

原位低温TEM-STM测量系统、原位MST一体化测量系统、原位真空传输TEM-STM测量系统、

原位光学TEM-STM测量系统、原位双倾TEM-STM测量系统