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透射电镜原位加热/电学样品杆,基于MEMS原位芯片技术,通过更换多种类型的加热芯片或电学芯片,在透射电镜中实现对样品加热或加电的原位功能。透射电镜样品杆的分类1、气氛杆:气氛杆能够突破现有透射电镜对于真空度要求的限制,在一个*封闭的气体系统中,研究透射电镜内的气相反应过程,如高分辨下观察催化剂与气体的反应情况。并结合控温模块,能够在特定的压力和温度下动态的,实时的观察原子级别的固气反应。同时,该样品杆可以真正在透射电镜中进行密闭腔室的EDS元素分析。可用气体种类:氢气、氮气、氧气、氩气、氨气等多
查看更多在科学研究和工业生产中,液体样品杆作为一种重要的实验工具,广泛应用于化学、生物、物理等领域。为了提高实验的准确性和效率,它的设计与优化显得尤为重要。一、设计原则密封性:首要任务是确保样品在运输和实验过程中的密封性,防止液体泄漏。因此,设计时应选用优质的密封材料和合适的密封结构。精度:精度直接影响到实验结果的准确性。在设计过程中,应充分考虑样品的浓度、粘度等因素,选择合适的取样量和取样方式,以确保测量精度。操作性:应易于操作,方便用户快速完成样品的取样、加样等操作。同时,操作过...
了解更多扫描电镜(SEM)的对比度调整是优化图像质量的关键步骤,以下是一些有效的调整技巧:调节电子束参数:改变加速电压和聚焦电流可以显著影响图像对比度。较低的加速电压通常会增加样品表面细节的对比度,因为低能电子与样品的相互作用更强,但可能会减少穿透深度。调整聚焦电流则可以控制电子束的精细程度,进而影响图像的清晰度和对比度。对比度控制器调节:在SEM的操作界面中,直接调整对比度控制旋钮或滑块。一般建议逐渐增加对比度至图像出现轻微噪声,这通常是一个较好的平衡点,对比度过高会使得图像细节模...
了解更多减少扫描电镜(SEM)中电子束对样品损伤的方法主要包括以下几点:降低束流密度:通过扩大扫描区域或减小电子束的流强,可以减少单位面积上接收到的电子数量,从而减轻对样品的损伤。使用低加速电压:较低的加速电压意味着电子的能量较低,它们对样品的穿透能力减弱,减少了对样品内部结构的损伤,更适合观察表面敏感或软物质样品。优化样品制备:确保样品表面导电,通过镀金或其他导电材料处理,减少表面充电效应。适当的热处理可以减少样品内部应力,间接降低损伤。对于生物样品,冷冻干燥或液氮快速冷冻可以固定...
了解更多在材料力学性能的研究中,原位拉伸样品杆与应力-应变曲线之间的关系是至关重要的。原位拉伸技术为研究者提供了一种在微观尺度上观察材料在受力过程中的变形行为的方法,而应力-应变曲线则是描述材料在受到外力作用时,其内部发生变形与破坏特性的宏观表现。原位拉伸样品杆是实现这一研究的关键工具。通过在扫描电子显微镜(SEM)或透射电子显微镜(TEM)等高精度成像设备中安装拉伸装置,研究者能够在材料受到拉伸力的同时,实时观察其微观结构的变化。这种技术使得研究者能够直观地看到材料的形变过程,包括...
了解更多在科学实验中,尤其是在材料科学、生物学和化学等领域,原位样品杆起着至关重要的作用。它允许研究人员在真实环境中对样品进行观测和分析,从而获得更准确、更贴近实际的数据。一、提高机械稳定性机械稳定性是原位样品杆性能的基础。为了减少外界振动和热漂移对实验结果的影响,可以采取以下措施:选用高强度材料:选择具有优良机械性能的材料制作样品杆,以提高其抗振能力。优化结构设计:通过合理的结构设计,降低样品杆的质量和刚度,从而减小振动幅度。增加支撑结构:在样品杆周围增加支撑结构,如固定支架或减震...
了解更多透射电子显微镜是一种强大的显微成像工具,能够在原子尺度上揭示物质的微观结构和性质。在实验中,样品杆作为样品的载体和传输装置,其性能直接影响到成像质量和分辨率。一、样品杆的稳定性和精度样品杆的稳定性和精度是实现高分辨率成像的基础。一个高质量的样品杆应具备良好的机械稳定性和热稳定性,以确保在长时间实验过程中样品位置的精确性和一致性。此外,样品杆的制造精度也至关重要,因为任何微小的形变都可能导致成像失真和分辨率下降。二、样品杆的导电性在透射电子显微镜实验中,电子束穿过样品时会产生电...
了解更多在扫描电镜(SEM)中进行粉末样品分析,需要经过一系列精心的样品制备步骤,以确保获得高质量的图像和准确的数据。以下是粉末样品分析的基本步骤和注意事项:1.样品前处理-导电胶粘结法:首先,将样品台准备好,贴上导电胶(如银胶或碳胶)。使用牙签蘸取少量粉末,轻轻撒在导电胶上,然后通过震动和吹扫去除未粘附的粉末,确保单层分布。-超声波分散法:对于细小粉末,可以将其与适量的溶剂(如乙醇)混合,超声处理后滴在样品台上,干燥后进行观察。-直接撒粉法:适用于较粗粉末,直接撒在样品台上,可使用...
了解更多在扫描电镜(SEM)中实现多种信号检测主要依赖于其复杂的设计和不同类型的探测器。以下是关键步骤和原理:1、电子束与样品的相互作用:SEM的核心是高能电子束,它被聚焦到样品表面。当电子束与样品相互作用时,会产生多种信号,包括但不限于二次电子(SE)、背散射电子(BSE)、特征X射线、俄歇电子等。2、二次电子(SE)检测:原理:SE是从样品表面几纳米深度内产生的电子,对表面形貌非常敏感,能提供高分辨率的表面图像。探测器:通常使用半导体材料制成的SE探测器,如硅针尖,来捕捉这些低能...
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