
首页 > 技术文章
透射电镜原位加热/电学样品杆,基于MEMS原位芯片技术,通过更换多种类型的加热芯片或电学芯片,在透射电镜中实现对样品加热或加电的原位功能。透射电镜样品杆的分类1、气氛杆:气氛杆能够突破现有透射电镜对于真空度要求的限制,在一个*封闭的气体系统中,研究透射电镜内的气相反应过程,如高分辨下观察催化剂与气体的反应情况。并结合控温模块,能够在特定的压力和温度下动态的,实时的观察原子级别的固气反应。同时,该样品杆可以真正在透射电镜中进行密闭腔室的EDS元素分析。可用气体种类:氢气、氮气、氧气、氩气、氨气等多
查看更多原位拉伸台是材料力学性能研究中重要的设备,可实时观测材料在拉伸过程中的微观结构变化。其高效的实验设计和规范的操作是获得准确结果的关键。一、实验设计的三个核心要点先要明确研究目标,根据实验目的选择适合的材料和载荷范围。针对不同属性的材料,需设计差异化的变形路径。其次,试样制备必须标准化,确保尺寸精度和表面光洁度符合要求,避免因几何缺陷导致异常数据。要优化观测方案,根据材料特性选择合适的显微成像技术,同时合理设置观察区域和帧率,捕捉关键变形阶段的微观演变。二、规范操作...
了解更多薄壁金属结构因其在航天和汽车工业中的广泛应用而备受关注,尤其是在能量吸收装置方面。通过优化单元胞的形状和排列,这些结构能够显著提升冲击衰减和能量吸收能力。近年来,随着金属增材制造(AM)技术的发展,尤其是金属熔融沉积建模(FDM)技术的进步,复杂薄壁金属结构的制造变得更加高效和灵活。金属FDM技术通过打印、脱脂和烧结三个主要步骤实现复杂金属结构的制造,其优势在于避免了金属熔化过程中可能出现的元素宏观和微观偏析缺陷,同时降低了制造成本并减少了打印难度。此外,由于金属粉末被粘合剂...
了解更多铁电半导体材料因其可切换的自发极化特性和非易失性存储能力,对于开发新型低功耗电子器件和非易失性记忆体具有巨大的潜力。这些材料能够通过外部电场来调控其宏观极化特性,从而影响载流子传输性能。然而,要在同一薄膜材料中同时实现强大的铁电性质和优异的半导体特性却是一个巨大的挑战。锡(Sn)基钙钛矿半导体近年来受到了广泛关注,这主要归因于它们的p型特性、较低的载流子有效质量以及高迁移率。但是,由于这类材料通常具有较高的载流子浓度,内部电场无法被有效屏蔽,导致铁电极化减弱或消失,使得在Sn...
了解更多扫描电镜(ScanningElectronMicroscope,SEM)作为现代科学研究的重要工具,凭借其高分辨率、大景深和强大的综合分析能力,在材料科学、生物学、医学等领域发挥着不可替代的作用。本文将深入解析SEM的工作原理、核心优势、应用场景及样品制备要点,带您全面了解这一微观世界的“透视眼”。一、扫描电镜(SEM)的工作原理与核心构造1.电子束与物质的相互作用扫描电镜的核心原理基于高能电子束与样品表面的相互作用。当电子枪发射的电子束经加速和聚焦后,以纳米级直径扫描样品表...
了解更多随着全球节能减排和环保要求的日益提高,轻质、高强度的镁合金材料因其优异的综合性能而受到广泛关注。镁合金以其低密度、高比强度和良好的生物相容性等特点,在航空航天、汽车制造、电子通讯等领域展现出巨大的应用潜力。然而,纯镁的强度和硬度较低,限制了其在更广泛领域的应用。为了提高镁合金的性能,颗粒增强金属基复合材料成为了研究的热点。SiC颗粒因其热膨胀系数小、耐磨性好、硬度高及抗氧化性强等特点,且不会与Mg形成稳定的化合物,被广泛用于镁合金的增强相。SiC颗粒与AZ91D镁合金结合,不...
了解更多扫描电子显微镜分析是扫描电子显微镜(ScanningElectronMicroscopy)分析的简称。这种光谱技术是一种高分辨率表面成像形式,运用了光学显微镜原理。扫描电子显微镜分析通过聚焦电子束扫描测试样本,以生成其表面的高分辨率图像。扫描电子显微镜分析快速、无损且极为精确,是当下常用的高分辨率表面成像技术之一,对了解样本表面形貌与成分至关重要。扫描电子显微镜分析如何运作?扫描电子显微镜运用真空室,防止显微镜镜筒内既有分子和原子与电子束相互作用而致使图像失真,以此保障成像的...
了解更多在众多工业生产与科学研究场景中,精确测量物体表面的粗糙度和轮廓是一项至关重要的任务。而台阶仪,作为专业的测量仪器,在这一领域发挥着不可替代的关键作用。本文将全面深入地介绍台阶仪,涵盖其定义用途、工作原理、类型特点等方面,为您呈现关于台阶仪的详细知识画卷。一、台阶仪的定义与用途台阶仪,英文名为Profilometer,是专门用于测量物体表面轮廓和表面光洁度(表面粗糙度)的仪器。在微观层面观察,物体表面实则是由一系列高度、深度以及间距各不相同的峰谷所构成。这些看似细微的特征差异,...
了解更多扫描电子显微镜(SEM)是一种利用电子束扫描样品表面,通过检测产生的信号来获取样品表面形貌和成分等信息的高分辨率显微镜。本文将对SEM的基本原理、优势、应用领域以及操作时的注意事项进行详细解读。1.SEM技术概述SEM通过电子束与样品相互作用产生的信号,如二次电子和背散射电子,来构建样品表面的图像。这种显微镜能够提供纳米级别的高分辨率图像,并具备较大的景深,使得样品的三维形貌得以清晰展示。1.1工作原理SEM的工作原理类似于在暗室中使用手电筒扫描物体。电子束代替手电筒,电子探...
了解更多
版权所有©2025 安徽泽攸科技有限公司 Al Rights Reseved 备案号:皖ICP备17025148号-2 Sitemap.xml 管理登陆 技术支持:化工仪器网