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泽攸科技ZEM系列台式扫描电子显微镜（SEM）凭借其超高的便捷性、创新的技术设计、高分辨率成像能力及多样化的功能拓展，已成为科研与工业领域微观分析的重要工具。该系列产品以高度集成化、操作便捷性和广泛适用性为核心优势，覆盖了从基础研究到深层次材料分析的多层次需求。ZEM系列采用多项自主创新技术，例如真空分隔技术，通过电子枪与样品仓的真空分离设计，显著缩短换样时间，同时支持高真空与低真空模式。
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