泽攸科技ZEM系列台式扫描电子显微镜（SEM）凭借其超高的便捷性、创新的技术设计、高分辨率成像能力及多样化的功能拓展，已成为科研与工业领域微观分析的重要工具。该系列产品以高度集成化、操作便捷性和广泛适用性为核心优势，覆盖了从基础研究到深层次材料分析的多层次需求。ZEM系列采用多项自主创新技术，例如真空分隔技术，通过电子枪与样品仓的真空分离设计，显著缩短换样时间，同时支持高真空与低真空模式。

泽攸科技ZEM系列台式扫描电子显微镜（SEM）凭借其超高的便捷性、创新的技术设计、高分辨率成像能力及多样化的功能拓展，已成为科研与工业领域微观分析的重要工具。该系列产品以高度集成化、操作便捷性和广泛适用性为核心优势，覆盖了从基础研究到深层次材料分析的多层次需求。ZEM系列采用多项自主创新技术，例如真空分隔技术，通过电子枪与样品仓的真空分离设计，显著缩短换样时间，同时支持高真空与低真空模式。

泽攸科技ZEM系列台式扫描电子显微镜（SEM）凭借其超高的便捷性、创新的技术设计、高分辨率成像能力及多样化的功能拓展，已成为科研与工业领域微观分析的重要工具。该系列产品以高度集成化、操作便捷性和广泛适用性为核心优势，覆盖了从基础研究到深层次材料分析的多层次需求。ZEM系列采用多项自主创新技术，例如真空分隔技术，通过电子枪与样品仓的真空分离设计，显著缩短换样时间，同时支持高真空与低真空模式。

泽攸科技ZEM系列台式扫描电子显微镜（SEM）凭借其超高的便捷性、创新的技术设计、高分辨率成像能力及多样化的功能拓展，已成为科研与工业领域微观分析的重要工具。该系列产品以高度集成化、操作便捷性和广泛适用性为核心优势，覆盖了从基础研究到深层次材料分析的多层次需求。ZEM系列采用多项自主创新技术，例如真空分隔技术，通过电子枪与样品仓的真空分离设计，显著缩短换样时间，同时支持高真空与低真空模式。

泽攸科技ZEM系列台式扫描电子显微镜（SEM）凭借其超高的便捷性、创新的技术设计、高分辨率成像能力及多样化的功能拓展，已成为科研与工业领域微观分析的重要工具。该系列产品以高度集成化、操作便捷性和广泛适用性为核心优势，覆盖了从基础研究到深层次材料分析的多层次需求。ZEM系列采用多项自主创新技术，例如真空分隔技术，通过电子枪与样品仓的真空分离设计，显著缩短换样时间，同时支持高真空与低真空模式。

ZEM20台式扫描电镜原位拉伸一体机由泽攸科技生产，具备高分辨率和多功能特性。其加速电压范围为3kV至20kV，可进行1kV步进调整，最高放大倍率为36万倍，分辨率可达5纳米。该设备支持样品台减速模式，无需喷金即可观察弱导电样品，并配备有超大样品舱，可集成多种原位拓展平台。电子枪采用预对中钨灯丝设计，一体化聚光镜，无需手动调节物镜光阑，可选配LaB6灯丝。此外，它还配备了五轴全自动样品台。