1. 定性分析
EDS可以识别样品中的元素,通过检测特征X射线峰来确定元素的存在。
元素识别:检测并识别样品中的所有元素,通常范围从硼(B)到铀(U)。
光谱分析:显示样品的X射线光谱图,通过光谱中的特征峰来识别不同元素。
2. 定量分析
EDS不仅可以识别元素,还可以定量分析其含量。
元素含量:通过分析X射线峰的强度,计算样品中各元素的重量百分比和原子百分比。
标准化方法:使用标准样品进行校准,提高定量分析的准确性。
3. 面扫描分析(Mapping)
EDS可以生成元素分布图,显示样品表面各元素的空间分布情况。
元素分布图:通过面扫描技术,生成样品表面各元素的二维分布图像。
多元素映射:同时生成多个元素的分布图,显示不同元素在样品中的共存和分布关系。
4. 线扫描分析(Line Scan)
通过沿指定的线扫描样品表面,显示元素沿该线的分布情况。
线扫描图:沿指定线段扫描,显示各元素信号强度随位置的变化。
定量剖面:提供定量的元素分布剖面图,显示各元素在扫描线上的浓度变化。
5. 点分析(Spot Analysis)
对样品的特定点进行详细的元素分析,适用于微小区域或特征的成分分析。
单点分析:对样品中的某个特定微小区域进行详细的元素分析。
多点分析:在样品不同点位进行成分分析,比较不同区域的元素组成。
6. 厚度分析
利用EDS分析薄膜或多层结构样品的厚度。
薄膜厚度:通过分析特征X射线信号的衰减,估算薄膜或多层结构的厚度。
分层结构:分析样品的多层结构,确定每一层的厚度和元素组成。
7. 相分析
通过结合元素分布信息,对样品中的不同相进行分析。
相识别:根据元素组成和分布,识别样品中的不同相或化合物。
相对比:分析不同相的元素组成和相互分布关系。
8.实际操作步骤
样品准备:确保样品表面导电,必要时进行导电处理(如涂覆金属层)。
SEM成像:使用SEM获取高分辨率图像,确定分析区域。
EDS设置:选择适当的EDS分析参数,如加速电压、束流强度和采集时间。
数据采集:定性分析:采集X射线光谱,识别样品中的元素。
定量分析:根据光谱峰值强度计算元素含量。
面扫描和线扫描:进行元素分布图和线扫描图的采集。
点分析:对特定点进行详细成分分析。
数据处理和分析:使用EDS软件处理数据,生成光谱图、分布图和定量结果。
解释和分析结果,确定样品的成分和结构信息。
通过这些分析功能,SEM-EDS可以为材料科学、地质学、生物学、冶金学等领域提供详细的元素成分和分布信息。
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