SEM低温/冷冻真空传输系统

SEM低温/冷冻真空传输系统

产品介绍

泽攸科技的SEM低温/冷冻真空传输系统是一款专为扫描电子显微镜（SEM）设计的先进设备，它允许在极低温度下对样品进行观察和分析，同时保持样品的原始状态。该系统能够在真空环境中稳定传输样品，确保在分析过程中样品不受外界环境的影响，这对于需要在低温条件下研究材料表面特性的科研人员来说至关重要。

参数介绍

提供定制化样品梭服务

独立控制系统   独立真空系统

高匹配360°（无限）旋转冷台  冷台倾转角度≥55°

冷台温度≤-170℃  冷台降低温时间：≤35min

冷阱温度≤-190℃  冷阱降低温时间≤20min

冷台、冷阱设计烘烤功能  烘烤温度：≥100℃

• 360°旋转冷台

▲ 功能：用于装载样品梭及提供低温保

▲ 旋转角度：0-360°

▲ 控温范围：-170℃~100℃

▲ 控温精度：≤±0.1℃

▲ 降温速度：≤35min

• 冷阱

▲ 功能：低温保护、吸附污染物

▲ 控温范围：≤-190℃

▲ 控温精度：≤±0.5℃

▲ 降温速度：≤20min

• 真空转移腔

▲ 功能：用于样品的真空转移

▲ 可实现手套箱—FIB真空相互转移

▲ 可实现液氮内样品—FIB冷冻制样真空转移

• 真空过度仓

▲ 功能：实现样品到电镜的真空过度转移

▲ 操作快速

▲ 便捷独立真空系统

▲ 匹配电镜真空

• 低温系统

▲ 功能：用于为冷台、冷阱提供冷源

▲ 液氮容积35L

▲ 持续工作时间＞8h

▲ 设计不停机添加液氮端口

• 控制系统

▲ 功能：用于系统的控制、集成和交互

▲ 温度显示及控制

▲ 真空系统集成与控制

▲ 选配液氮工作站，可满足样品的冷进冷出需求

应用案例

锂电池隔膜样品在不同温度下的FIB截面制备结果
显示：低温可避免FIB制备过程产生的热量对样品结构造成的破坏

某高分子膜截面冷冻加工