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原位探针样品杆系列

【产品概述】泽攸科技PicoFemto原位探针样品杆系列,涵盖单倾、双倾、光电、力电、低温、真空传输等多种类型,可全面适配主流透射电镜,满足不同科研场景的多样化需求。

  • 产品型号:
  • 更新时间:2026-04-01
  • 访  问  量:18
  • 厂商性质:生产厂家

产品详情

泽攸科技PicoFemto原位探针样品杆系列,涵盖单倾、双倾、光电、力电、低温、真空传输等多种类型,可全面适配主流透射电镜,满足不同科研场景的多样化需求。该系列样品杆以一体化集成设计为核心,将探针操控与多场原位测试功能深度融合,无需复杂调试即可实现精准的样品定位与操控,搭配便捷的软件控制系统,大幅降低操作门槛,兼顾专业性与易用性。

产品核心优势突出,具备灵活的适配能力,可无缝对接各类主流电镜设备,无需额外改造即可投入使用;集成多种原位测试功能,能够实现多场耦合环境下的样品表征与性能测量,打破传统离线测试的局限,助力科研人员捕捉材料动态演化过程与瞬态特性。同时,整套设备配置齐全、部署便捷,配套完善的辅助工具与数据处理功能,可高效支撑前沿科研工作,简化实验流程、提升研究效率,是材料、半导体、新能源等领域开展原位研究、攻克科研难题的核心辅助设备。


泽攸科技PicoFemto原位探针样品杆系列

单倾 / 双倾探针杆

适配主流透射电镜,可实现精准探针操纵与高灵敏电学测量,双倾机型支持多角度观测,满足不同原位电学表征需求


原位探针样品杆系列


名称

主要参数

主要配置

单倾探针杆

兼容性

Thermo Fisher、JEOL、 Hitachi等

样品杆、样品杆底座、手提箱、探针控制器、(PC+软件)、针尖腐蚀仪、工具附件等

粗调范围

XY方向2.5mm,Z方向1.5mm

细调范围

XY方向15um,Z方向1.5um

细调分辨率

XY方向0.4nm,Z方向0.04nm

控制方式

粗细调均采用压电陶瓷驱动,软件控制

电学测量指标

电流测量范围:2.5nA-30mA,多个量程;

电流分辨率:100fA

电压输出范围:普通模式±10V,高压模式±150V

数据处理

电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存


名称

主要参数

主要配置

双倾探针杆

兼容性

Thermo Fisher、JEOL、 Hitachi等

样品杆、样品杆底座、手提箱、探针控制器、(PC+软件)、双倾控制器、针尖腐蚀仪、工具附件等

倾转角度

±25°(取决于电镜极靴型号)

粗调范围

XY方向2.5mm,Z方向1.5mm

细调范围

XY方向15um,Z方向1.5um

细调分辨率

XY方向0.4nm,Z方向0.04nm

控制方式

粗细调均采用压电陶瓷驱动,软件控制

电学测量指标

电流测量范围:2.5nA-30mA,多个量程;

电流分辨率:100fA

电压输出范围:普通模式±10V,高压模式±150V

数据处理

电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存





单倾力电探针杆(AFM)

可同步完成纳米力学定量测量与高灵敏电学表征,为材料力电耦合性能研究提供精准可靠的原位实验平台

原位探针样品杆系列

名称

主要参数

主要配置

单倾力电探针杆

(AFM)

兼容性

Thermo Fisher、JEOL、 Hitachi等

样品杆、样品杆底座、手提箱、探针控制器、(PC+软件)、针尖腐蚀仪、工具附件等

细调范围

XY方向15um,Z方向1.5um

细调分辨率

XY方向0.4nm,Z方向0.04nm

控制方式

粗细调均采用压电陶瓷驱动,软件控制

电学测量指标

电流测量范围:2.5nA-30mA,多个量程;

电流分辨率:100fA

电压输出范围:普通模式±10V,高压模式±150V

数据处理

电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存

力学测量指标

最大载荷100 uN

力传感器选配:5uN、10uN、50uN、100uN

载荷分辨率≤0.2%F.S.

数据处理

自动测量力-距离曲线,曲线可保存



单倾 / 双倾力热电探针杆(非定量力)

集成力、热、电多场加载,支持高温下原位拉伸、压缩与电学测试,双倾机型可实现更全面的微观结构观测


原位探针样品杆系列

名称

主要参数

主要配置

单倾力热电探针杆

(非定量力)

兼容性

Thermo Fisher、JEOL、 Hitachi等

样品杆、样品杆底座、手提箱、探针控制器、(PC+软件)、针尖腐蚀仪、MST芯片、PTP芯片、工具附件等

细调范围

XY方向15um,Z方向1.5um

细调分辨率

XY方向0.4nm,Z方向0.04nm

控制方式

粗细调均采用压电陶瓷驱动,软件控制

电学测量指标

电流测量范围:2.5nA-30mA,多个量程;

电流分辨率:100fA

电压输出范围:普通模式±10V,高压模式±150V

数据处理

电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存

MST指标

最高800℃

控温精度±0.2℃

用于原位压缩、加电测试

PTP指标

最高800℃

控温精度±0.2℃

用于原位拉伸测试

名称

主要参数

主要配置

双倾力热电探针杆

(非定量力)

兼容性

Thermo Fisher、JEOL、 Hitachi等

样品杆、样品杆底座、手提箱、探针控制器、(PC+软件)、针尖腐蚀仪、MST芯片、PTP芯片、工具附件等

倾转角度

±20°(取决于电镜极靴型号)

细调范围

XY方向15um,Z方向1.5um

细调分辨率

XY方向0.4nm,Z方向0.04nm

控制方式

粗细调均采用压电陶瓷驱动,软件控制

电学测量指标

电流测量范围:2.5nA-30mA,多个量程;

电流分辨率:100fA

电压输出范围:普通模式±10V,高压模式±150V

数据处理

电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存

MST指标

最高800℃

控温精度±0.2℃

用于原位压缩、加电测试

PTP指标

最高800℃

控温精度±0.2℃

用于原位拉伸测试




单倾力 + 热 + 光 + 电探针杆(非定量力、多场)

集力、热、光、电多功能于一体,可在透射电镜下实现多场耦合环境下的原位动态表征,满足复杂前沿科研需

原位探针样品杆系列


名称

主要参数

主要配置

单倾力+热+光+电探针杆

(非定量力、多场)

兼容性

Thermo Fisher、JEOL、 Hitachi等

样品杆、样品杆底座、手提箱、探针控制器、(PC+软件)、针尖腐蚀仪、MST芯片、PTP芯片、工具附件等

细调范围

XY方向15um,Z方向1.5um

细调分辨率

XY方向0.4nm,Z方向0.04nm

控制方式

粗细调均采用压电陶瓷驱动,软件控制

光纤参数

多模光纤、芯径可选

光纤接口

FCPC光纤接口

电学测量指标

电流测量范围:2.5nA-30mA,多个量程;

电流分辨率:100fA

电压输出范围:普通模式±10V,高压模式±150V

电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存

MST指标

最高800℃

控温精度±0.2℃

用于原位压缩、加电测试

PTP指标

最高800℃

控温精度±0.2℃

用于原位拉伸测试


低温探针杆

支持极低温环境下的原位探针操控与电学测量,为低温物理、低维材料等研究提供稳定可靠的实验条件

原位探针样品杆系列


名称

主要参数

主要配置

低温探针杆

兼容性

Thermo Fisher、JEOL、 Hitachi等

样品杆、样品杆底座、手提箱、探针控制器、温控仪、(PC+软件)、针尖腐蚀仪、杜瓦烘烤预抽系统、工具附件等

低温度

≤-160℃

分辨率

优于0.3nm

低温保温时长

4h

粗调范围

XY方向2.5mm,Z方向1.5mm

XY方向15um,Z方向1.5um

XY方向0.4nm,Z方向0.04nm

细调范围

粗细调均采用压电陶瓷驱动,软件控制

细调分辨率

电流测量范围:2.5nA-30mA,多个量程;

电流分辨率:100fA

电压输出范围:普通模式±10V,高压模式±150V

控制方式

电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存


原位定量力热样品杆

可在高温下实现高精度定量力学加载与力热耦合测试,适用于严苛工况下的材料力学与热学性能研究

原位探针样品杆系列


名称

主要参数

主要配置

定量力热样品杆

最大纵向载荷

1.5mN

样品杆、样品杆底座、手提箱、探针控制器、温控仪、(PC+软件)、针尖腐蚀仪、杜瓦烘烤预抽系统、工具附件等

纵向力载荷噪音背景

500nN

最大压痕深度

2um

位移噪音背景

1.4nm

最大数据采集速率

100Hz

精细调节样品定位范围 XYZ

X方向12um,Y方向15um,Z反向2um

精细调节样品定位分辨率

X方向0.4nm,Y方向0.4nm,Z方向0.1nm

粗调节样品定位范围 XYZ

750um/750um/1500um

力热耦合下最高加热温度

800℃

加热功能下最高加热温度

1200℃

倾转方式

单倾/双倾


单倾 / 双倾真空传输探针杆

可实现样品在手套箱与电镜间的真空密封转移,有效保护空气敏感样品,保证原位实验结果真实可靠

原位探针样品杆系列

名称

主要参数

主要配置

真空传输探针杆

兼容性

Thermo Fisher、JEOL、 Hitachi等

样品杆、样品杆底座、手提箱、探针控制器、(PC+软件)、针尖腐蚀仪、工具附件等

粗调范围

XY方向2.5mm,Z方向1.5mm

细调范围

XY方向15um,Z方向1.5um

细调分辨率

XY方向0.4nm,Z方向0.04nm

控制方式

粗细调均采用压电陶瓷驱动,软件控制

电学测量指标

电流测量范围:2.5nA-30mA,多个量程;

电流分辨率:100fA

电压输出范围:普通模式±10V,高压模式±150V

数据处理

电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存

真空传输功能

手套箱与透射电子显微镜间实现密封转移






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